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發(fā)布日期:2022-10-09 點(diǎn)擊率:60
創(chuàng)意無(wú)極限,儀表大發(fā)明。今天為大家介紹一項(xiàng)國(guó)家發(fā)明授權(quán)專(zhuān)利——電流傳感器的檢測(cè)裝置和方法。該專(zhuān)利由比亞迪股份有限公司申請(qǐng),并于2018年9月7日獲得授權(quán)公告。
內(nèi)容說(shuō)明
本發(fā)明涉及電流傳感器技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種電流傳感器的檢測(cè)裝置和方法。
發(fā)明背景
目前,檢測(cè)電流傳感器是否為良品的方法主要通過(guò)檢測(cè)內(nèi)嵌在電流傳感器磁芯縫隙中的霍爾芯片是否被壓彎來(lái)實(shí)現(xiàn)。首先,給被測(cè)的電流傳感器提供+/-15V的工作電壓,其次用磁性螺絲刀調(diào)節(jié)電流傳感器中的電位器(例如電阻值為200k歐姆的電位器),觀看萬(wàn)用表的讀數(shù)是否有正負(fù)輸出。如果輸出值不在±20mv范圍內(nèi),將其調(diào)節(jié)至±20mv以?xún)?nèi)。然后將磁性螺絲刀插入磁芯氣隙內(nèi),即霍爾芯片的兩側(cè),使霍爾芯片對(duì)磁性螺絲刀的磁場(chǎng)產(chǎn)生感應(yīng)。此時(shí),觀看萬(wàn)用表上的數(shù)值是否在±10mv以?xún)?nèi)。當(dāng)電流傳感器處于靜態(tài)工作時(shí),用磁性螺絲刀當(dāng)作一塊磁鐵,在電流傳感器中的霍爾芯片處加一磁場(chǎng)。如果萬(wàn)用表讀數(shù)超過(guò)±10mv,說(shuō)明電流傳感器中的霍爾芯片被壓彎,則可判定該電流傳感器為不良品;如果萬(wàn)用表讀數(shù)在±10mv以?xún)?nèi),則可判定該電流傳感器為良品。
現(xiàn)有技術(shù)中存在的缺點(diǎn)是,上述的測(cè)試方法通過(guò)人工操作進(jìn)行測(cè)試,可能會(huì)產(chǎn)生誤差,導(dǎo)致準(zhǔn)確性非常差。具體而言,當(dāng)霍爾芯片所在位置處于磁芯氣隙中磁場(chǎng)強(qiáng)度最強(qiáng)的位置時(shí),可以粗略地反應(yīng)出電流傳感器的靜態(tài)輸出,并不能準(zhǔn)確的檢測(cè)出霍爾芯片是否被壓彎。當(dāng)霍爾芯片所在的位置并不是處于磁芯氣隙中磁場(chǎng)強(qiáng)度最強(qiáng)的位置時(shí),霍爾芯片兩側(cè)的磁場(chǎng)不平衡,所以電流傳感器的靜態(tài)輸出超出范圍。因此,當(dāng)霍爾芯片所在的位置并不是處于磁芯氣隙中磁場(chǎng)強(qiáng)度最強(qiáng)的位置時(shí),現(xiàn)有的測(cè)試方法并不適用,無(wú)法準(zhǔn)確地檢測(cè)霍爾芯片是否被壓彎。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明旨在至少在一定程度上解決上述技術(shù)問(wèn)題。
本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例的待測(cè)電流傳感器的模型圖
為此,本發(fā)明的第一個(gè)目的在于提出一種電流傳感器的檢測(cè)裝置,通過(guò)測(cè)試電流生成器生成測(cè)試電流,并將該測(cè)試電流施加在導(dǎo)體上,控制器接收待測(cè)電流傳感器生成的輸出電壓,并根據(jù)輸出電壓對(duì)待測(cè)電流傳感器進(jìn)行檢測(cè),提高了檢測(cè)的準(zhǔn)確性和可靠性,使得檢測(cè)電流傳感器時(shí)更加簡(jiǎn)便、智能化,有效地減少了電流傳感器不良品的漏檢。
本發(fā)明的第二個(gè)目的在于提出一種電流傳感器的檢測(cè)方法。為達(dá)上述目的,根據(jù)本發(fā)明第一方面實(shí)施例提出了一種電流傳感器的檢測(cè)裝置,包括:導(dǎo)體,所述導(dǎo)體穿插在待測(cè)電流傳感器的磁環(huán)內(nèi);測(cè)試電流生成器,用于生成測(cè)試電流,并將所述測(cè)試電流施加在所述導(dǎo)體之上,以使所述待測(cè)電流傳感器通過(guò)霍爾芯片對(duì)所述測(cè)試電流生成的磁場(chǎng)感應(yīng),從而生成輸出電壓;以及控制器,所述控制器與所述待測(cè)電流傳感器的輸出端相連接,用于接收所述待測(cè)電流傳感器生成的輸出電壓,并根據(jù)所述輸出電壓對(duì)所述待測(cè)電流傳感器進(jìn)行檢測(cè)。
本發(fā)明實(shí)施例的電流傳感器的檢測(cè)裝置,通過(guò)測(cè)試電流生成器生成測(cè)試電流,并將該測(cè)試電流施加在導(dǎo)體上,控制器接收待測(cè)電流傳感器生成的輸出電壓,并根據(jù)輸出電壓對(duì)待測(cè)電流傳感器進(jìn)行檢測(cè),提高了檢測(cè)的準(zhǔn)確性和可靠性,使得檢測(cè)電流傳感器時(shí)更加簡(jiǎn)便、智能化,有效地減少了電流傳感器不良品的漏檢。
本發(fā)明第二方面實(shí)施例提供了一種電流傳感器的檢測(cè)方法,包括以下步驟:將導(dǎo)體穿插在待測(cè)電流傳感器的磁環(huán)內(nèi),并將測(cè)試電流生成器生成的測(cè)試電流施加在所述導(dǎo)體之上,以使所述待測(cè)電流傳感器通過(guò)霍爾芯片對(duì)所述測(cè)試電流生成的磁場(chǎng)感應(yīng),從而生成輸出電壓,使所述待測(cè)電流傳感器生成輸出電壓;控制與所述導(dǎo)體相連的所述測(cè)試電流生成器生成的測(cè)試電流;采集所述待測(cè)電流傳感器生成的輸出電壓;根據(jù)所述輸出電壓對(duì)所述待測(cè)電流傳感器進(jìn)行檢測(cè)。
本發(fā)明實(shí)施例的檢測(cè)方法,通過(guò)對(duì)測(cè)試電流生成器電源的控制,使對(duì)待測(cè)電流傳感器進(jìn)行檢測(cè)時(shí),實(shí)現(xiàn)了控制測(cè)試電流生成器的自動(dòng)開(kāi)啟或關(guān)閉,有效地防止了電路短接,提高了檢測(cè)時(shí)的安全性;并通過(guò)對(duì)測(cè)試電流生成器生成的測(cè)試電流的自動(dòng)調(diào)整,代替了手動(dòng)旋鈕調(diào)整測(cè)試電流,為檢測(cè)提供了便利,而且提高了檢測(cè)的準(zhǔn)確性。
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型號(hào):CSNG251
價(jià)格:面議
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訂貨號(hào):CSNG251
型號(hào):CSNG251-001
價(jià)格:面議
庫(kù)存:10
訂貨號(hào):CSNG251-001
型號(hào):ACS723LLCTR-40AB-T
價(jià)格:面議
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訂貨號(hào):ACS723LLCTR-40AB-T
型號(hào):ACS770LCB-050U-PFF-T
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訂貨號(hào):ACS770LCB-050U-PFF-T
型號(hào):IR2175SPBF
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訂貨號(hào):IR2175SPBF
型號(hào):Si8503-C-IM
價(jià)格:面議
庫(kù)存:10
訂貨號(hào):Si8503-C-IM