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    X射線衍射儀主要由X射線源、樣品臺(tái)、測(cè)角器、檢測(cè)器和計(jì)算機(jī)控制處理系統(tǒng)組成。同時(shí)使X射線管和探測(cè)器做圓周同向轉(zhuǎn)動(dòng)，探測(cè)器的角速度是X射線管的2倍，這樣可以使二者永遠(yuǎn)保持1:2的角度關(guān)系。

    探測(cè)器的作用是使X射線衍射強(qiáng)度轉(zhuǎn)變?yōu)橄鄳?yīng)的電信號(hào)，一般采用的是正比計(jì)數(shù)管，通過過濾器、定標(biāo)器等處理后終得到衍射強(qiáng)度為2θ的衍射曲線。

    X射線衍射儀的作用：

    （1）當(dāng)材料由多種結(jié)晶成分組成，需區(qū)分各成分所占比例，可使用XRD物相鑒定功能，分析各結(jié)晶相的比例。

    （2）很多材料的性能由結(jié)晶程度決定，可使用XRD結(jié)晶度分析，確定材料的結(jié)晶程度。

    （3）新材料開發(fā)需要充分了解材料的晶格參數(shù)，使用XRD可快捷測(cè)試出點(diǎn)陣參數(shù)，為新材料開發(fā)應(yīng)用提供性能驗(yàn)證指標(biāo)。

    （4）產(chǎn)品在使用過程中出現(xiàn)斷裂、變形等失效現(xiàn)象，可能涉及微觀應(yīng)力方面影響，使用XRD可以快捷測(cè)定微觀應(yīng)力。

    （5）納米材料由于顆粒細(xì)小,極易形成團(tuán)粒,采用通常的粒度分析儀往往會(huì)給出錯(cuò)誤的數(shù)據(jù)。采用X射線衍射線線寬法(謝樂法)可以測(cè)定納米粒子的平均粒徑。

    X射線粉末衍射儀和X射線衍射儀的區(qū)別

    X射線粉末衍射儀, 針對(duì)于測(cè)試樣品為粉末;X射線衍射儀 , 包括粉末衍射、單晶衍射、高溫衍射儀等等 !

    X射線衍射儀包含X射線粉末衍射儀，由于物質(zhì)要形成比較大的單晶顆粒很困難。

    所以目前X射線粉末衍射技術(shù)是主流的X射線衍射分析技術(shù)，單晶衍射可以分析出物質(zhì)分子內(nèi)部的原子的空間結(jié)構(gòu)。粉末衍射也可以分析出空間結(jié)構(gòu)，但是大分子（比如蛋白質(zhì)等）等復(fù)雜的很難分析。

    X射線粉末衍射可以:

    1,判斷物質(zhì)是否為晶體.

    2,判斷是何種晶體物質(zhì).

    3,判斷物質(zhì)的晶型.

    4,計(jì)算物質(zhì)結(jié)構(gòu)的應(yīng)力.

    5,定量計(jì)算混合物質(zhì)的比例.

    6,計(jì)算物質(zhì)晶體結(jié)構(gòu)數(shù)據(jù).

    7,和其他相結(jié)合會(huì)有更廣泛的用途.

    比如可以通過晶體結(jié)構(gòu)來判斷物質(zhì)變形,變性,反應(yīng)程度等!