網(wǎng)絡(luò)分析儀是通過在所考察頻率范圍內(nèi)的激勵---響應(yīng)測試來建立線性網(wǎng)絡(luò)的傳遞和（或）阻抗特性的數(shù)據(jù)模型的過程。網(wǎng)絡(luò)分析儀可直接測量有源或無源、可逆或不可逆的雙口和單口網(wǎng)絡(luò)的復(fù)數(shù)散射參數(shù)，并以掃頻方式給出各散射參數(shù)的幅度、相位頻率特性。因?yàn)榫W(wǎng)絡(luò)分析儀所提供的各種參數(shù)對于后續(xù)射頻電路的研究設(shè)計(jì)有著導(dǎo)向性作用，所以控制誤差是必要的，它的同軸校準(zhǔn)就顯得十分重要。
網(wǎng)絡(luò)分析儀是否可以不校準(zhǔn)？
不校準(zhǔn)直接測試，這是網(wǎng)絡(luò)分析儀的降檔使用方法，不校準(zhǔn)狀態(tài)比校準(zhǔn)后的誤差可能大10倍以上，可以用來臨時觀察評估，不可用作正式測量報告數(shù)據(jù)。
校準(zhǔn)件配套精確數(shù)據(jù)的必要性
精確的配套數(shù)據(jù)是校準(zhǔn)件價值所在，沒有數(shù)據(jù)的校準(zhǔn)件不能用來做校準(zhǔn)。
矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀校準(zhǔn)時，必須選定激活所使用的校準(zhǔn)件配套的精確數(shù)據(jù)，不能不選，也不能選擇不配套的其它數(shù)據(jù)，也不能選ideal理想值，否則導(dǎo)致校準(zhǔn)錯誤。配套數(shù)據(jù)不準(zhǔn)確，會導(dǎo)致極大的校準(zhǔn)誤差。
什么是SOLT和TOSM校準(zhǔn)？它們的區(qū)別？
兩者是同樣的校準(zhǔn)技術(shù)。
SOLT是Keysight的叫法，Short - Open - Load - Through；
TOSM是R&S的叫法，Through - Open - Short - Match。
推薦稱為TOSM，因?yàn)長oad和Line的縮寫都是L，可能產(chǎn)生混淆。
正確TOSM校準(zhǔn)基礎(chǔ)要求？
校準(zhǔn)件接口類型必須與DUT完全一致；
Through - Open - Short - Match各個校準(zhǔn)件的配套數(shù)據(jù)必須精確匹配，多項(xiàng)式模型或s1p數(shù)據(jù)均可；
在矢網(wǎng)Cal kit菜單中檢查Through校準(zhǔn)件數(shù)據(jù)，是否male-male, female - female以及male - female 三種類型齊備，而且通常male - female直通不需要物理器件，實(shí)際是測試電纜接口直接互聯(lián)，Delay（或電長度）和loss等于零，其它兩種直通這兩項(xiàng)參數(shù)大于零，或者完整s2p數(shù)據(jù)；
在矢網(wǎng)Cal kit菜單中檢查Through校準(zhǔn)件數(shù)據(jù)，如果僅有THRU(m-f)，delay=0，而其它OSM校準(zhǔn)件數(shù)據(jù)齊備，此套校準(zhǔn)件不支持male-female以外的TOSM校準(zhǔn)，如果是m-m或f-f的被測件測量，只能應(yīng)用未知直通UOSM校準(zhǔn)；
在矢網(wǎng)Cal kit菜單中檢查Through校準(zhǔn)件數(shù)據(jù)，如果THRU(m-f)的delay=0，那么即使校準(zhǔn)箱中存在THRU(m-f)物理器件，也不能在TOSM校準(zhǔn)值使用；
注意，可能在使用的校準(zhǔn)箱中，發(fā)現(xiàn)有各種接口類型的直通連接器，但是Cal kit中沒有配套數(shù)據(jù)，說明這僅僅是連接器，只能作為未知直通，不能用作THRU直通校準(zhǔn)件。
同軸校準(zhǔn)常用方法？
雙端口和多端口測試時，如果Through - Open - Short - Match各個校準(zhǔn)件的配套數(shù)據(jù)精確完整且在校準(zhǔn)周期內(nèi)，推薦使用TOSM；
如果直通校準(zhǔn)件沒有精確的配套數(shù)據(jù)，推薦采用未知直通校準(zhǔn)，SOLR是Keysight的叫法，UOSM是R&S的叫法，校準(zhǔn)過程與TOSM類似，執(zhí)行OSM校準(zhǔn)步驟后，用一個普通同軸連接器代替THRU做未知直通校準(zhǔn)；
單端口器件測試時，推薦OSM(OSL)校準(zhǔn)。
UOSM的"未知直通"連接器的要求？
未知直通連接器，實(shí)現(xiàn)測試界面之間的連接，與DUT接口類型一致，駐波沒有特殊要求，損耗不大且滿足互易性（S21=S12 >> -40dB）即可。
校準(zhǔn)件的配套數(shù)據(jù)類型格式？
校準(zhǔn)件的配套數(shù)據(jù)，有兩種類型，一種是多項(xiàng)式模型，另一種是S參數(shù)數(shù)據(jù)。
校準(zhǔn)時必須采用配套的校準(zhǔn)件數(shù)據(jù)，不可使用ideal理想數(shù)據(jù)；
S參數(shù)數(shù)據(jù)類型，是校準(zhǔn)件配套精確計(jì)量的S參數(shù)數(shù)據(jù)；
多項(xiàng)式模型，除了特性阻抗以外，一般給出Open的電容多項(xiàng)式系數(shù)、Short的電感多項(xiàng)式系數(shù)、Through的延時（單位ps）或電長度（單位mm），以及上述校準(zhǔn)件的loss（GΩ/s或dB/√GHz）；
精密級校準(zhǔn)件，每套校準(zhǔn)件必須嚴(yán)格的出廠測試，配套精確計(jì)量的S參數(shù)數(shù)據(jù)類型，并且給出基于此精確數(shù)據(jù)的多項(xiàng)式模型；
經(jīng)濟(jì)型校準(zhǔn)件一般都采用多項(xiàng)式模式的模式，而且每個型號的多項(xiàng)式系數(shù)都是一樣的，無需出廠測試，產(chǎn)品線保證工藝誤差，不確定度比精密級校準(zhǔn)件差。
測試專用同軸連接器的要求？
測試電纜末端連接器要求很高，隨意使用的普通商用轉(zhuǎn)接器無法保證精度要求。生產(chǎn)工藝和精度的原因，造成同軸內(nèi)導(dǎo)體連接縫隙，造成阻抗不連續(xù)，反射駐波會惡化。另據(jù)計(jì)量學(xué)界對此連接縫隙的仿真研究，要求校準(zhǔn)件有一定的縫隙避免出現(xiàn)諧振，且不同同軸類型和頻率范圍的連接器，要求的最小縫隙尺寸不同。對于空氣線校準(zhǔn)件，為了保證兩側(cè)的對稱性，盡量保證縫隙最小化。
快速查驗(yàn)網(wǎng)絡(luò)分析儀是否故障
各端口不接電纜開路進(jìn)行全頻段波量測試，顯示水平功率曲線，數(shù)值等于網(wǎng)絡(luò)分析儀設(shè)置功率，起伏不超過2dB，說明狀態(tài)完好；
曲線如果出現(xiàn)大的波峰波谷，說明網(wǎng)絡(luò)分析儀故障。
快速查驗(yàn)校準(zhǔn)件故障方法？
以下是正常校準(zhǔn)件的表現(xiàn)：
端口1分別直接連接Short - Open - Load（Match），S11掃頻測試；
Open和Short，S11幅度接近0dB，S11的delay與配套數(shù)據(jù)一致；
Open的起始相位0°左右，Short的起始相位180°左右；
匹配負(fù)載的S11<-20dB，相位隨機(jī)；
Through連接端口1-2，觀察測試S11≈S22<-20dB，S21≈S12且數(shù)值很小。
如何校準(zhǔn)同軸校準(zhǔn)件的精確數(shù)據(jù)
初始檢驗(yàn)校準(zhǔn)件，包括特殊設(shè)計(jì)的精密空氣線、精密負(fù)載和短路器，精密測試電纜和連接器；
矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀使用上述裝置完成初始TRL校準(zhǔn)后，對校準(zhǔn)件進(jìn)行測試獲取S參數(shù)數(shù)據(jù)，作為配套數(shù)據(jù)。依據(jù)這些S參數(shù)進(jìn)行曲線擬合運(yùn)算，可以得到多項(xiàng)式模型系數(shù)數(shù)據(jù)。
校準(zhǔn)件的維護(hù)保養(yǎng)
校準(zhǔn)件是精密校準(zhǔn)器具，嚴(yán)防物理損傷，保持日常清潔防塵維護(hù)。另外注意日常使用中的磨損造成校準(zhǔn)件數(shù)據(jù)的變化，使用一段時間需要重新校準(zhǔn)，校準(zhǔn)周期建議1年或500次連接，原廠和計(jì)量機(jī)構(gòu)可以提供校準(zhǔn)服務(wù)。
建議與生產(chǎn)企業(yè)簽訂保修、維修和校準(zhǔn)服務(wù)合同，校準(zhǔn)件用量大且頻繁的用戶需要注意，有些廠商規(guī)定拒絕單體校準(zhǔn)件維修替換，必須整套購置，這種情況需考慮維護(hù)預(yù)案以避免損失。
